美國International Light - 輻照度計(jì) 型號(hào)/圖片

美國ILT2400紫外輻照計(jì)XSD340AT7探頭XIR395nm波長校準(zhǔn)片

International Light ILT2400輻照計(jì)及XSD340AT7探頭響應(yīng)范圍320-475nm、XIR395校準(zhǔn)片用于精確測(cè)量395nm波長曝光強(qiáng)度等級(jí)和曝光時(shí)間，測(cè)量速度高達(dá)100μs，內(nèi)置可充電電池持續(xù)長達(dá)8小時(shí)，4.3寸觸摸屏顯示，可橫向和縱向觀看，帶NIST可溯源ISO17025認(rèn)證校準(zhǔn)證書。

美國ILT2400輻照計(jì)SED033/QNDS2/W探頭太陽輻射測(cè)量100倍衰減濾光片

美國International Light ILT2400及SED033/QNDS2/W輻照度測(cè)量系統(tǒng)用于太陽和太陽模擬器輻射測(cè)量，探頭響應(yīng)波長200-1100nm，傳感器安裝100倍衰減濾光片，讀數(shù)范圍6e-7 W/cm2~10W/cm2，帶美國NIST可溯源校準(zhǔn)和證書。

International Light ILT2400輻照計(jì)XSD340AT7探頭405nm紫外線UV固化

美國ILT2400輻照計(jì)配合XSD340AT7探頭可用于測(cè)量320~475nm波段、中心波長405nm的輻照度，量程8e-6至60W/cm2，可用于高強(qiáng)度曝光機(jī)UV固化工藝測(cè)量，以及光阻劑測(cè)量、3D打印等監(jiān)測(cè)應(yīng)用。

美國ILT2400輻照計(jì)SED005/UVF/A313探頭UV LED能量計(jì)350-400nm

International Light ILT2400輻照計(jì)及SED005/UVF/A313探頭專門為提高UV LED曝光機(jī)測(cè)量系統(tǒng)精確度而設(shè)計(jì)，在UV固化作用光譜350~400nm區(qū)域提供更均勻的響應(yīng)，輻照度測(cè)量范圍0.05μW/cm2~800mW/cm2，可添加峰值波長的PIR校準(zhǔn)過濾片，帶美國NIST可溯源ISO17025認(rèn)證校準(zhǔn)報(bào)告。

美國ILT2400+XSD005UVF UVLED輻照計(jì)350-410nm固化曝光測(cè)量

國際光學(xué)International Light ILT2400+XSD005UVF輻照計(jì)探頭具有平坦一致性的光譜曲線，該系統(tǒng)適用于監(jiān)測(cè)UV LED固化曝光能量強(qiáng)度及時(shí)間，在UV固化的關(guān)鍵區(qū)域350-410nm波長提供更均勻的響應(yīng)，以手持式的價(jià)格提供研究級(jí)的質(zhì)量。

美國ILT2400輻射計(jì)UV固化光刻紫外殺菌及3D打印曝光輻照度測(cè)量

International Light ILT2400輻射計(jì)支持多種光測(cè)量應(yīng)用如UV紫外殺菌燈、激光/紅外線光、UV固化、掃描激光安全、3D打印、通用光測(cè)量等，測(cè)量速度達(dá)100μs，可切換lux,W/cm2, cd/m2測(cè)量單位，精度7%。

美國ILT2400紫外輻照計(jì)SED033/A/W探頭320-475nm紫外波長輻射照度計(jì)

美國International Light PCB印刷線路板曝光測(cè)量ILT2400輻照計(jì)與SED033/A/W探頭作用于320-475nm波長頻譜，帶有專門用于A波段的光刻膠過濾器及W擴(kuò)散器，可測(cè)定2e-7至2 W/cm2輻照度，測(cè)光表和探測(cè)器均帶NIST可溯源ISO17025認(rèn)證校準(zhǔn)報(bào)告。

[停產(chǎn)]美國萬國光學(xué)ILT1400輻照計(jì)與XRL140B/XSL140B/XRL340A探頭

International Light ILT1400紫外線輻照計(jì)已停產(chǎn)升級(jí)為ILT2400型，原先配套用于紫外線殺菌、UV固化/光刻膠曝光測(cè)量的XRL140B、XSL140B、XRL340A等系列探頭也一起停產(chǎn)，需要要購買新的測(cè)光表和光探測(cè)器替代。

[停產(chǎn)]International Light ILT1700臺(tái)式研究級(jí)輻照計(jì)高精度光探測(cè)

美國ILT1700臺(tái)式輻照計(jì)特別為光探測(cè)器測(cè)量而設(shè)計(jì)，具有0.1%線性精度，提供美國NIST校準(zhǔn)報(bào)告證書，內(nèi)置RS232和USB輸出，應(yīng)用于閃光燈測(cè)量、LED發(fā)光、紫外線殺菌、光刻膠、紫外固化、激光研究和植物光生物學(xué)等。

[停產(chǎn)]美國International Light ILT490紫外輻照計(jì)UV固化照度計(jì)

美國International Light萬國光學(xué)公司ILT490紫外線輻照計(jì)適用于多種燈，包括摻鐵型(Iron doped)、H型、D型和標(biāo)準(zhǔn)UV光源—UVC/UVAB，測(cè)試波長205nm-345nm/250-400nm，輻照度范圍10mW/cm2~20W/cm2，準(zhǔn)確度優(yōu)于6%。