lcr數(shù)字電橋測試儀規(guī)格及相關(guān)使用方法說明

LCR電橋測試儀是能夠測量電感、電容、電阻、阻抗的儀器，也叫LCR數(shù)字電橋、LCR測試儀、LCR電橋、LCR表、LCRMeter等。lcr測試儀以微處理器控制的數(shù)字式測量各種無源阻抗參量，因其測試速度快、讀數(shù)方便、功能多、頻率范圍寬、測量范圍大、穩(wěn)定性和準(zhǔn)確度較高、易于實(shí)現(xiàn)程控等眾多優(yōu)點(diǎn)己廣泛應(yīng)用于計(jì)量測試、科研單位測量各類電子元器件的阻抗特性和篩選、元器件生產(chǎn)及維修制作等領(lǐng)域。

lcr測試儀品牌型號繁多，有手持式LCR電橋測試儀也有臺式lcr測試儀，且絕大部分為多參數(shù)、多功能的測量儀，操作方法各異，為使其發(fā)揮多種測量功能并保證測量的準(zhǔn)確性，應(yīng)正確設(shè)定測量參數(shù)。以下是深圳市格信達(dá)科技有限公司整理的關(guān)于lcr電橋使用方法的相關(guān)問題。

對于一個已知的電容該選用什么樣的測試條件？ 

(1)小于100pF電容用1MHZ頻率測量，中等容量如(1000pF-10uF)用1KHZ，10KHZ，100KHZ，國家標(biāo)準(zhǔn)測試中等電容的測試頻率標(biāo)準(zhǔn)是1KHZ。電解類如鋁電解，鉭電解等用100HZ或120HZ。 

(2)從電平的角度說大部分電容對電平不敏感，不同電平測試變化不大，但有些介電常數(shù)大的電容與電平非常敏感，應(yīng)仔細(xì)選擇電平。 

(3)各種電容的常規(guī)測試頻率，電解電容是(100HZ.120HZ)，薄膜電容一般可以是(1KHZ-100KHZ)。

關(guān)于LCR數(shù)字電橋測量準(zhǔn)確度的問題 

測量準(zhǔn)確度是反映儀器性能的主要指標(biāo)之一，確切了解所需儀器的準(zhǔn)確度是準(zhǔn)確評價(jià)元件優(yōu)劣的關(guān)鍵。一般地，儀器準(zhǔn)確度應(yīng)比測量元件的技術(shù)指標(biāo)高3—5倍。更為重要的是，通常儀器樣本或其它宣傳資料給出的是在某種條件下的最高準(zhǔn)確度，這是最能產(chǎn)生混淆之處，應(yīng)了解被測量元件在測量頻率下呈現(xiàn)的阻抗及對應(yīng)測量條件下的儀器準(zhǔn)確度是否滿足測量要求。充分了解儀器的測量準(zhǔn)確度是極為重要的，而且準(zhǔn)確度與所給定的測試條件密切相關(guān)，如電平、速度、溫度等。

輸出阻抗/儀器內(nèi)阻不同對測試結(jié)果有什么影響

(1)儀器輸出阻抗不同導(dǎo)致被測器件上信號不同，最終會導(dǎo)致顯示參數(shù)的不同。內(nèi)阻對測試的影響主要是測試電感，一般如果搞不清就用100歐姆內(nèi)阻。

 (2)測試時(shí)信號其實(shí)是被測件與儀器內(nèi)阻(輸出阻抗)串聯(lián)在一起，會對信號產(chǎn)生分壓作用。因此低阻抗測試實(shí)際加到器件上的電平小于設(shè)定電平。早先的電橋內(nèi)阻是量程自動變化的，目前LCR內(nèi)阻一旦選定就不變化，有的儀器有30?和100?的內(nèi)阻選擇。

信號源輸出阻抗如何選擇

傳統(tǒng)LCR電橋的信號源阻抗隨著量程的變化而變化的，這樣不同的元件測量時(shí)的實(shí)際電平變化極大，這對某些器件的測量是不合理的。國際先進(jìn)及認(rèn)可的輸出阻抗方法為100?如Agilent4284A、Agilent4980A、Agilent 4263B等。為兼顧與傳統(tǒng)儀器的一致性，部分lcr測試儀產(chǎn)品可由用戶鍵盤選擇輸出阻抗。

使用lcr電橋測試時(shí)施加于被測件的電平是十分重要的，實(shí)際施加于被測件上的電平（電壓或電流）與儀器信號源阻抗有關(guān)，雖然儀器電平相同，若信號源阻抗不同，實(shí)際施加于被測件上的電平就不同。lcr測試儀器配上專用SMD測試夾具就可以測貼片元件，分為兩端測試和四端測試。一般LCR數(shù)字電橋出廠時(shí)進(jìn)行的1米長度測試線校準(zhǔn)，如果超過1米，需要重新校準(zhǔn)。